热分析评价系统
激光热膨胀计
LIX系列
ULVAC EQUIPMENT SALES
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关于LIX系列的介绍、购买、商讨
最小分辨率2nm的超精密热膨胀测定。
可以测量低热膨胀材料和各种电子部件的精密膨胀。同时，也可以对应薄膜的厚度方向的膨胀测量。
可以测量低热膨胀材料和各种电子部件的精密膨胀。同时，也可以对应薄膜的厚度方向的膨胀测量。
特点
可以测量50至500μm厚的聚合物膜材料的厚度方向
专利和标准
JISR3251-1995标准
平移式样品架（专利）
用途
- 有机薄膜的厚度膨胀测量
- 低膨胀玻璃的高精度膨胀测量
- 封装材料的膨胀测量
规格
| Model | LIX-2M | LIX-2L |
|---|---|---|
| Temperature range | RT ～ 700℃ | －150 ～ 200℃ |
| Sample size | Φ5 ～ 6 × L10 ～ 15 (mm) Both sides in the length direction are finished spherically. | |
| Atmosphere | 1. Vacuum 2. Low pressure high purity helium gas | |
| Measurement method | Dual path Michelson laser interferometry | |
