热导率测量系统
激光闪光法热常数测量装置
激光闪光法热常数测量装置
TC-1200RH/TC-9000系列
大幅度缩短测量时间。用激光闪光法测量热电材料、陶瓷、碳和金属等均质固体材料的热3常数（热扩散率、比热容、热导率）的装置。
扫描型热探针微图像
氙气闪光法热扩散率测量装置
氙气闪光法热扩散率测量装置
TD-1系列
热传导性高分子材料的研究开发、品质管理。
可以评估测量放热片等的厚度方向和平面内异质性。与激光闪光相比光源柔和可以测量薄片。
另外，通过专用的附件，可以简单地进行样品的各向异性的测量。
2ω法纳米薄膜热传导率计
2ω法纳米薄膜热传导率计
TCN-2ω
能简单地评估纳米薄膜的热传导率。
在2ω测量中，是测量纳米薄膜厚度方向的热传导率的世界唯一的商用设备。
与其他方式相比，能简单地进行试料的制作和测量。
光交流法热扩散率测定装置
光交流法热扩散率测定装置
LaserPIT
可评估各种film状膜的平面方向的热传导性。
是根据激光交流照射AC法(Angstrom法)，测量薄板材料的平面方向热扩散率的装置。
也可测量高热传导膜中的亚微米薄膜。