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热物性测定装置
金属、半导体用电阻测量装置
TER系列
アルバック販売
金属的相变态、时效、再结晶反应。用直流四端子法可精密测量金属合金、半导体的电阻。
特点
- 可以在恒温升/降温过程和恒温保持过程中测量电阻
- 通过直流四端子方法可以进行高精度测量
- 测量不受热电动势的影响
用途
- 金属的相变，时效析出，再结晶等研究
- 非晶态金属的再结晶分析
- 形状记忆合金的研究与开发
- 半导体材料的各温度下的电阻测量
规格
| Model | TER-2000RH | TER-2000L |
|---|---|---|
| Temperature range | RT ～ 1400℃ | -150℃～200℃ |
| Measurement method | DC four terminal method | |
| Measurement range | 100Ω～5×10-5Ω | |
| Sample Size | Φ 10 × L 100 (mm) | |
| tmosphere | Inert gas, Air, Vacuum (option) | |
