校正リーク|リークディテクタ|製品情報|ULVAC SHOWCASE

校正リーク

校正リークの導入・購入・検討について

校正リークは、既知の漏れを発生する機器です。これにより、リークディテクタの分析部で測定されたイオン電流値を漏れ量に換算することが可能です。


校正リーク

CLM

ガラス(透過材)をヘリウムガスが透過することを利用した校正リークです。(真空法校正)

校正リーク

CLC

微細な穴にヘリウムガスを導入する事により一定の漏れ量が得られる校正リークです。
校正手法には、真空法校正とスニッファー法校正の2種類を用意しています。

SHOWCASE

校正リーク

トレーサビリティ証明書

トレーサビリティ体系により実施されている証明書を発行いたします。(校正結果の値は記載されていません)

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校正リーク

一般校正試験成績書

校正結果の試験成績書を発行いたします。校正結果の値が記載されています。

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校正リーク

JCSS校正

JCSS(Japan Calibration Service System)校正ご希望のお客様には別途JCSS校正作業を行うことで、JCSS標章付校正証明書を発行いたします。

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