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ビルトインタイプ
UNECSシリーズ
UNECS-1M
アルバック
各種装置への組み込みが可能なビルトインタイプ
UNECSシリーズは薄膜の膜厚や屈折率を高速・高精度に測定する分光エリプソメータです。
独特な測定方式を採用し、高速測定とコンパクト化を実現しています。
ユニークなポータブルタイプをはじめ、自動ステージタイプや装置ビルトインタイプまで、用途に応じ幅広いラインアップを用意しております。
UNECS-1Mは、軽量・コンパクトなセンサユニットにより、組み込みが容易に行なえます。
独特な測定方式を採用し、高速測定とコンパクト化を実現しています。
ユニークなポータブルタイプをはじめ、自動ステージタイプや装置ビルトインタイプまで、用途に応じ幅広いラインアップを用意しております。
UNECS-1Mは、軽量・コンパクトなセンサユニットにより、組み込みが容易に行なえます。
特長
- 高速測定：
独特なスナップショット方式の採用により、最速20msの高速測定を実現しました。 - 可視分光対応：
波長範囲は標準タイプ（530nm～750nm）および可視分光タイプ（380nm～760nm）から選択できます。 - コンパクトなセンサユニット：
投受光センサは回転機構を持たない光学素子のみで構成されており非常に軽量・コンパクトで、定期的なメンテナンスも必要もありません。 - 豊富なラインアップ：
ユニークなポータブルタイプをはじめ、手動/自動ステージタイプや大型基板､装置ビルトインタイプなど、多様な用途に対応したラインアップを用意しています。
用途
- 透明または半透明薄膜（酸化膜、窒化膜、レジスト、ITO など） の膜厚、屈折率、消衰係数の測定
仕様
| 波長範囲 | 530～750nm、380～760nm（どちらか選択） | |
| スポット径 | Φ1mm、Φ0.3mm（どちらか選択） | |
| 入射角度 | 70°固定 | |
| 膜厚再現性 | 1σ = 0.1nm | |
| 膜厚範囲 | 1nm ～ 2μｍ | |
| 測定時間 | 受光：20ms ～ 3000ms 演算：300ms | |
| 機器構成 | 測定ヘッド、コントロールBOX、光源ユニット、取扱説明書（CD）、解析ソフトウェア（CD） ＊制御PCは仕様に含まれていません |
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該非判定結果報告書
ダウンロード
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オプションパーツ・消耗品
高速分光エリプソメータ オプション
標準試料 100nm SiO2/Si
